四探針晶圓電阻測量儀FT-0421

  • 雙系統控制模式: 電腦控制和觸摸屏控制
  • 數據處理:測試數據可顯示測試點的 X,Y 坐標,電流電壓範圍,電阻,電阻率等。
  • 圖譜功能畫面:制圖軟件可根據樣品形狀,測量點數量和位置,測量點的方阻值繪出 2D, 3D MAP 圖。
  • 控制系統:機器是雙系統控制模式,可電腦控制,也可以觸摸屏控制。
  • 有伺服電機,高精度走位,探頭壓力傳感器,設有多重壓力感應保護機制。測量區域封閉無塵空間,減少污染。

Specification

儀器規格參數

機器主要性能具體技術要求及指標
方阻測量範圍四探針探頭可測方阻範圍:1×10E-6ohm/sq ~ 5×10E6ohm/sq
四探針探頭測量類型金屬層,植入,掺杂聚合物,硅化物和外延,高阻抗表面,基板
樣品尺寸晶圓12寸以內,其他尺寸可定制
四探針系統電流量程1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,50mA,500mA 七檔
四探針標準晶圓方阻重復性1,≦0.1% (同點靜態測量) 2,≦0.1% (動態多點測量)
四探針標準晶圓測量精度≦±1% (典型晶圓)
運動軸定位精度50um
測試圖形1,極地圖形(在對位晶圓的notch)
2,矩形圖形(無效邊緣排除以外進行選擇)
3,直線掃描(可以是直徑,半徑或沿直徑的點到點,最小距離0.1mm)
4,用戶自定義(使用模板)
測量圖形表示可以為輪廓圖,3D圖,water上顯示的數據圖數據表示
探針自清潔功能陶瓷片清潔
數據處理所有設備測量的數據文件可以導入到Excel,Word文檔,工作站等,

數據圖形可以合併

 

四點探針頭主要參數

探頭型號針尖半徑針尖壓力針尖間距
A40μm100g1mm
B100μm100g1mm
C200μm100g1mm
D500μm70g1mm
E40μm200g1.591mm
F40μm100g0.635mm
G100μm100g0.635mm
H200μm100g0.635mm
可客製化之參數連接形式:連接器、線束、插針式

針尖排列形式:線性排列、正方形排列

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