三箱式冷熱衝擊試驗箱 FT-TS系列

SKU: FT-TS系列 Category: 半導體/零件編帶/包裝/測試設備 Tags: Optics, Semiconductor, Test

本系列沖擊箱可分高溫區、低溫區和測試區。
適用於測試材料在瞬間達到極高溫及極低溫的連續環境下所能忍受的程度，借以在最短的時間內試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。

Specification

Specification

規格參數

Model	FT-TS	50	80	100	150	250	500	1000
容積	L	50	80	100	150	250	500	1000
內箱寬	mm	350	400	500	600	700	800	1000
內箱高	mm	400	500	500	500	600	800	1000
內箱深	mm	360	400	400	500	600	750	1000
外箱寬	mm	1400	1450	1550	1650	1750	1850	2050
外箱高	mm	1725	1825	1825	1825	1825	2125	2325
外箱深	mm	1710	1750	1750	1850	1950	2100	2350

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